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星空体育入口:2025年度纳米粒度及Zeta电位仪榜单TOP15：国产进口各六大品牌上榜

来源：星空体育入口发布时间：2026-06-08 05:51:40 16

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2025年的纳米粒度仪及Zeta电位仪，技术创新浪潮奔涌，在纷繁的技术路线中，究竟哪些产品能凭借核心优势脱颖而出，成为用户关注的焦点？

仪器信息网基于全站全年用户访问、搜索及咨询等综合流量数据，对纳米粒度仪、Zeta电位仪品类深度统计与分析，梳理出“2025年度纳米粒度及Zeta电位仪热度榜单Top15”。本次上榜产品共覆盖12个国内外知名品牌，其中进口品牌占据9席，分别来自布鲁克海文（Brookhaven）、马尔文帕纳科（Malvern Panalytical）、麦奇克（Microtrac）、安东帕（Anton Paar）、美国PSS、大昌华嘉（DKSH）六大品牌；国产品牌占据6席，分别为丹东百特、欧美克、普迈精医、瑞芯智造、广州贝拓科学、珠海真理光学六大品牌。

(榜单说明：统计范围：仪器信息网平台纳米粒度仪、Zeta电位仪品类；统计时间：2025年1月1日 - 2025年12月31日；排名依据：基于网站用户行为数据（搜索量、浏览量等）的综合热度指数。)

90Plus Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪，粒度测量采用动态光散射原理，是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用电泳光散射原理，带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。

3.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程；

4.综合最新最全的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件；

5.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析.

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。

Zetasizer Ultra 纳米粒度仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统，它融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围，而 MADLS 则能在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。

具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率；

以样品为中心的ZS Xplorer软件能轻松实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型

作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以轻松又有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。

3.硬件PALS技术，灵敏度较高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系；

4.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程；

5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件；

6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析.

新一代 NanoSight Pro 的推出，马尔文帕纳科为纳米和生物材料的表征提供了简单且快速的 NTA 解决方案。先进的工程设计和众多智能功能的组合确保了 NTA 测量高效、快速。NS Xplorer 软件由机器学习提供支持，实现了自动测量，消除了主观影响，并为光散射和荧光分析提供了高质量的颗粒大小和浓度数据。

快速安装和分析：测量前只需要简单的设置、便捷的操作和直观的 NS Xplorer 软件

高分辨率：可测量 10 nm - 1000 nm 范围内的纳米颗粒，包括低散射和生物颗粒

强大的荧光功能：更高的荧光灵敏度能轻松实现检测特定亚群，例如表面标记物、内部货物检测或污染物。

NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView所具备的单一颗粒跟踪技术，结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能，让用户眼见为实，更加直观人性化。通过子体积的扫描，来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外，颗粒浓度也能够最终靠视频计数分析得到。

NANOTRAC FLEX独特的探头设计能轻松实现只需要一滴液体滴在探头的顶部做测量，这样测量只需最小的样品量2μl。探头同时也适合1.5mL Eppendorf 管。此款纳米粒度仪能配合Zeta电位分析仪STABINO ZETA使用，可以在一定程度上完成不同溶液环境下的粒度测量以及Zeta电位测量，通过自动滴定的方式能够快速的对不同配方的稳定性进行评价。

FlowGuard探头在原来的探头周围加了PTFE 外壳, 可以有效的预防测量表面受到湍流的影响，外壳上孔口能保证样品不停的交换，在探头的界面处同时减缓搅拌的运动速度；

NANOTRAC FLEX探头在测量任何类型样品时都很容易和快速的清洗。

安东帕纳米粒度及Zeta电位仪Litesizer DLS系列能提供一流的粒度测量，并具有自动角度选择功能以减小误差，而 MAPS 技术可实现一流的峰值分辨率。连续的透射率检测可以监控测量过程中样品的沉淀和结块，提高测量的可靠性。作为系统的独特之处，cmPALS 和 Omega Cuvette 通过解决老化效应并降低电势梯度来提高 zeta 电位的准确性和可重复性。Litesizer DLS 还提供了荧光和偏振滤光片，不仅适用于粒度测量，还适用于 MAPS 三角和单角度模式下的颗粒浓度测量。

多角度粒度测量 (MAPS) 测量模式提供了出色的分辨率，支持先进的分析精度。

连续透光率监控技术是市面上独有的，可在整个测量过程中提供样品行为的实时反馈

专利 cmPALS 技术采用独特设计，可消除由老化效应所引起的可重复不确定性

NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，采用电泳光散射技术测定颗粒Zeta电位和电位分布，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位检测分析技术，提升了仪器的电位分析性能，升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。

在表面分析中，安东帕固体表面Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。它能够给大家提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中最微小的变化。帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。

各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品

应用：膜和过滤材料、生物材料、半导体工业、纤维、织物和无纺布、化妆品和洗涤剂、矿物等

ZetaProbe是一款易上手，简单易操作，测量准确的Zeta 电位分析仪。对于高达60% v/v浓度的样品。也无需稀释或样品前处理即可直接测量，甚至对于浆糊、凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可用ZetaProbe直接进行测量。

自动Zeta 电位分析仪专利的多频电声技术可直接在样品原始状态下直接测量Zeta电位；

NanoCoulter G系列纳米粒度仪（粒径+浓度+电位）具备粒径、浓度、电位多维度检验测试能力。通过微电流检测系统记录每个粒子的电脉冲信号，再经过智能分析软件计算，即可准确地得到样品颗粒浓度、粒径、zeta电位、形态等全面的分析结果。

1、无需热机，无需校准。只需扫描检测卡预制的二维码就可以完成所有参数设置。

2、无需清洗:可抛弃型非侵入式检测卡；测样前无需清洗仪器和样本槽，直接上样就可进行测试

3、智能软件:审计追踪功能，符合21 CFR part 11；存储每个颗粒的完整脉冲信息，方便研发用户进行多角度分析

4、NanoCoulter G系列纳米粒度仪（粒径+浓度+电位）一次检测可同时获得粒径、浓度、电位信息

纳米粒度与Zeta电位分析仪是集成纳米胶体溶液的颗粒粒度，及其Zeta电位的高性能光学检测装置。该装置测量纳米颗粒的粒度和Zeta电位的原理分别是：动态光散射（Dynamic Light Scattering，DLS）技术，与电泳光散射（Electrophoretic Light Scattering, ELS）技术。应用上述技术，可以实时、准确地检测胶体溶液中纳米颗粒的粒径及粒径分布，以及Zeta电位等参数，可广泛的应用于生物、医药、化工、食品、材料制备和污水处理等领域的基础研究、质量分析和质量控制等应用。

（5）可靠的光纤耦合装置，高效地增加DLS和ELS信号的信噪比，提高测量稳定性

（7）高稳定性的光路与电路设计：消除杂散光和噪声信号的影响，结果稳定性和重复性高

Nicomp N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检验测试范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。

5、复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换

6、模块化设计便于维护和升级：可自动稀释模块；搭配多角度检测器；自动进样系统

Nanolink SZ902系列纳米粒度分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了真理光学全新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。

• 包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm

• 加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用

• 独创的余弦拟合相位分析法（CF-PALS）优于目前的频谱分析法（FFT）和传统的位相分析法（PALS）

技术融合与多维表征成为创新“标配”。根据榜单统计，超过80%的上榜仪器兼具粒度与Zeta电位分析功能。这一定性趋势表明，市场对仪器综合表征能力的需求已成为共识。其次，智能化解决方案需求凸显。榜单中，“自动化操作”、“智能软件”、“一键测量”成为超过60%上榜仪器宣传的核心特点。技术创新方向明确聚焦于：提升高浓度测量上限、扩展极端条件适用性、以及集成颗粒浓度与荧光分析等多维参数的一体化测量。